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半微量分析天平
??ANA-Mu-66i半微量分析天平主要用于毫克級或微克級的微量樣品稱量,采用彩色觸摸屏設計,內有全自動定時內部校準功能,它的核心定位是填補常規分析天平與微量天平之間的精度空白,廣泛用于高校及研究實驗室中,為需要高重復性和低檢測限的實驗提供精確數據。

半微量分析天平

  • 詳情說明

?ANA-Mu-66i半微量分析天平主要用于毫克級或微克級的微量樣品稱量,采用彩色觸摸屏設計,內有全自動定時內部校準功能,它的核心定位是填補常規分析天平與微量天平之間的精度空白,廣泛用于高校及研究實驗室中,為需要高重復性和低檢測限的實驗提供精確數據。


產品特點
彩色觸摸屏
電磁力平衡式傳感器
全自動定時內部校準
鑄鋁外殼/超大空間防風罩
全量程去皮
計數功能/百分比稱重
密度功能
下掛稱重
單位轉換(g/mg/ct/oz)...
靈敏度/速度可調
過載報警/故障報警/水平指示器
選購:密度組件(固體/液體)

技術參數
最大秤量:100g 120g 200g 220g
實際分度值:0.0001g
最小秤量:0.01g
重復性:±0.0002g
線性:±0.0003g
校準方式:內校
秤盤尺寸:Φ80mm
穩定時間:≤3s
使用環境溫度:18-23℃
輸出端口:RS232
選購:打印機
防風罩內徑:175*165*230mm
外形尺寸:360*220*355mm
重量:10kg
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電話:400-811-6816
聯系人:134 5008 5940/劉工
郵箱:674774821@qq.com
網址:m.742s.com
地址:東莞市望牛墩鎮望牛墩新聯路10號6號樓
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